北京恒奧德儀器儀表有限公司
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空氣比熱容比測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-NCD-C
空氣比熱容比測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-NCD-C 本儀器用熱膨脹法測(cè)量空氣的比熱容比,主要供大院校普通物理熱學(xué)與熱力學(xué)實(shí)驗(yàn)教學(xué)用。由于本儀器采用擴(kuò)散硅氣體壓力傳感器測(cè)量空氣壓強(qiáng),用電集成溫度傳感器測(cè)空氣溫度,且硅氣體壓力傳感器的性及靈敏度由學(xué)生自己測(cè)量。
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液體比汽化熱測(cè)定儀型號(hào)HAD-FD-YBQR
液體比汽化熱測(cè)定儀型號(hào)HAD-FD-YBQR 本儀器對(duì)傳統(tǒng)的液體比汽化熱實(shí)驗(yàn)中的加熱、輸汽裝置行了改,避免蒸汽在傳輸過程中的熱量損失,減小了實(shí)驗(yàn)誤差。對(duì)加熱電爐增加爐溫控制電路,便于控制水過激沸騰,并保證水蒸汽輸入量熱器的速率達(dá)到實(shí)驗(yàn)要求。
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導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-TC-B
導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-TC-B 導(dǎo)熱系數(shù)是表征物質(zhì)熱傳導(dǎo)性質(zhì)的物理量。材料結(jié)構(gòu)的變化與所含雜質(zhì)的不同對(duì)材料導(dǎo)熱系數(shù)數(shù)值都有明顯的影響,因此材料的導(dǎo)熱系數(shù)常常需要由實(shí)驗(yàn)去具體測(cè)定。
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線膨脹系數(shù)測(cè)定儀型號(hào)HAD-FD-LEA
線膨脹系數(shù)測(cè)定儀型號(hào)HAD-FD-LEA 大多數(shù)物質(zhì)都有“熱脹冷縮”的性,這是由于物質(zhì)內(nèi)分子熱運(yùn)動(dòng)加劇或減弱成的。這個(gè)性質(zhì)在程結(jié)構(gòu)的中,在機(jī)械和儀器的制中,在材料的(如焊接)中,都應(yīng)考慮到,否則,將影響結(jié)構(gòu)的穩(wěn)定性和儀表的度。
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磁滯回線和磁化曲線測(cè)定儀HAD-FD-BH-I
磁性材料磁滯回線和磁化曲線測(cè)定儀HAD-FD-BH-I 磁性材料的磁滯回線和磁化曲線表征了磁性材料的基本磁性。在業(yè)、交通、通訊、電器等各域,大量應(yīng)用各種性的鐵磁材料。因此,磁性材料基本性測(cè)量,在實(shí)用上及大學(xué)物理實(shí)驗(yàn)中都顯得非常重要,并被列入內(nèi)各類等院校的物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)大綱中。
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動(dòng)態(tài)磁滯回線測(cè)定儀型號(hào)HAD-FD-BH-2
動(dòng)態(tài)磁滯回線測(cè)定儀型號(hào)HAD-FD-BH-2 磁性材料在通訊、信息存儲(chǔ)、電力、電子儀器以及交通具等域都有著十分廣泛的應(yīng)用。磁化曲線和磁滯回線反映磁性材料在外磁場(chǎng)作用下的磁化性,根據(jù)材料的不同磁性,可以用于電動(dòng)機(jī)、變壓器、電磁鐵、磁記憶元件等。動(dòng)態(tài)磁滯回線是磁性材料的交磁性,其在業(yè)中有重要應(yīng)用,因?yàn)榻浑妱?dòng)機(jī)、變壓器的鐵芯都是在交狀態(tài)下使用的。
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亥姆霍茲線圈磁場(chǎng)測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-HM-I
亥姆霍茲線圈磁場(chǎng)測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-HM-I 亥姆霍茲線圈磁場(chǎng)測(cè)定是綜合性大學(xué)和科院校物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)大綱中的重要實(shí)驗(yàn)之。該實(shí)驗(yàn)可以學(xué)習(xí)和掌握弱磁場(chǎng)測(cè)量方法,證明磁場(chǎng)迭加原理,根據(jù)教學(xué)要求描繪磁場(chǎng)分布等。
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新型螺線管磁場(chǎng)測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-ICH-II
新型螺線管磁場(chǎng)測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-ICH-II 用霍耳元件測(cè)量通電螺線管內(nèi)的磁場(chǎng)分布是校理科物理實(shí)驗(yàn)教學(xué)大綱中的個(gè)重要實(shí)驗(yàn)
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透鏡焦距測(cè)定儀型號(hào)HAD-FD-0E-1
透鏡焦距測(cè)定儀型號(hào)HAD-FD-0E-1 用光具座以透鏡成像原理測(cè)量凸透鏡和凹透鏡的焦距是理科大學(xué)的個(gè)主要的光學(xué)物理實(shí)驗(yàn)。目前通用的光具座存在下列不足:體積大、易生銹、移動(dòng)不靈活且在暗室中做實(shí)驗(yàn)。給測(cè)量帶來不便。
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固體介質(zhì)折射率測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-OE-3
固體介質(zhì)折射率測(cè)定儀型號(hào);HAD-FD-OE-3 折射率是反映介質(zhì)光學(xué)性質(zhì)的重要參數(shù)之。本儀器采用的實(shí)驗(yàn)方法,在光學(xué)測(cè)量中具有典型性和基本要求的點(diǎn)。用測(cè)布儒斯角的方法測(cè)量透明介質(zhì)的折射率及利用測(cè)量激光照射半導(dǎo)體薄片的反射系數(shù)方法,測(cè)量分半導(dǎo)體如硅、砷化鎵等介質(zhì)的折射率。
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